交流耐壓的幾種試驗方法

串聯(lián)諧振如果被試品的試驗電壓較高，而電容量較小，一般可采用串聯(lián)諧振方法。

當(dāng)試驗回路中w0L=1w0C(C包括 CX、C1、C2)時，試驗回路產(chǎn)生串聯(lián)諧振此時能在試品上產(chǎn)生較高的試驗電壓(試驗電壓高低與回路品質(zhì)因數(shù)有關(guān))，如果電容C較大，試驗回路電流也較大，通過電抗器的電流也較大，這時試驗設(shè)備一般難以滿足現(xiàn)場試驗需要；

通常該試驗接線僅適用于被試品電容量較小而試驗電壓較高，試驗變壓器能滿足試驗容量要求而不能滿足試驗電壓要求的情況。對于電力電纜來說，被試設(shè)備的電容量C是固定的，要使試驗回路產(chǎn)生諧振就要改變試驗回路的電感L或頻率w，即:w0=1LC或L =1w 02C；采用改變電感的方法來滿足串聯(lián)諧振需采用可調(diào)電抗器，但限于運輸和在現(xiàn)場搬動，電抗器的體積和重量不能做得很大，因此可調(diào)電抗器的調(diào)節(jié)范圍是有限的。所以在現(xiàn)場試驗時采用調(diào)感的方法往往由于電抗器的范圍有限而不能滿足試驗要求。

另一種方法是采用調(diào)頻的方法,即當(dāng)電抗器和電容固定時通過改變試驗電源頻率來使 w0L=1 w0C來達(dá)到所需的電壓，但這時需要一套調(diào)頻電源裝置。

并聯(lián)諧振

如果被試品的試驗電壓較低而試品容量較大時,一般可采用并聯(lián)諧振方法。

當(dāng)試驗回路中w0L=1w0C(C包括CX、C1、C2)時,試驗回路產(chǎn)生并聯(lián)諧振，此時試品電壓等于電抗器電壓也等于升壓變壓器高壓側(cè)電壓。由于電抗器的補償作用，變壓器理論上僅提供回路阻性電流，可以大大降低對試驗變壓器的容量要求。因此該試驗回路適用于試品電容量大,而電壓較低的情況。低電壓的電抗器一般容易制作,試驗時可采用幾個低電壓電抗器并聯(lián)的方法或利用可調(diào)電抗器改變電感的方法來滿足并聯(lián)諧振要求。如果有一套調(diào)頻電源裝置的話，也可采用改變試驗電源頻率的方法，使回路滿足試驗要求。

串-并聯(lián)法當(dāng)試驗電壓較高、被試品電容量較大時，采用上述兩種方法都難以滿足試驗要求，主要是試驗設(shè)備難以滿足要求：

一是合適的高電壓大容量的電抗器一般單位都不具備；

二是不同長度的電纜電容量不相同，需要的電抗器也不一樣，即使是可調(diào)電抗器也往往由于可調(diào)范圍有限而難以滿足試驗要求。因此僅靠配備合適的電抗器來滿足試驗要求就比較困難，所以國內(nèi)外進行長電纜交流耐壓試驗般均采用串、并聯(lián)調(diào)頻諧振方式。

在試驗回路中串入電抗器產(chǎn)生串聯(lián)諧振來提高被試品試驗電壓，在被試品兩端并聯(lián)電抗器使被試品電容電流大部份由電抗器來補償，從而使通過串聯(lián)電路中電抗器的電流大為減少，從而降低試驗對電抗器、試驗變壓器的要求。采用調(diào)頻電源裝置來改變試驗頻率使W0L=1W0C，使試驗回路產(chǎn)生諧振。這樣試驗設(shè)備就比較容易滿足試驗要求。