局部放電檢測(cè)干擾的來源

  廣義的局放干擾是指除了與局放信號(hào)一起通過電流傳感器進(jìn)入局部放電檢測(cè)儀及監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的干擾以外，還包括影響監(jiān)測(cè)系統(tǒng)本身的干擾，諸如接地、屏蔽、以及電路處理不當(dāng)所造成的干擾等。現(xiàn)場(chǎng)局部放電檢測(cè)干擾特指前者，它可分為連續(xù)的周期型干擾、脈沖型干擾和白噪聲。周期型干擾包括系統(tǒng)高次諧波、載波通訊以及無線電通訊等。

  脈沖型干擾分為周期脈沖型干擾和隨機(jī)脈沖型干擾。周期脈沖型干擾主要由電力電子器件動(dòng)作產(chǎn)生的高頻涌流引起。隨機(jī)脈沖型干擾包括高壓線路上的電暈放電、其他電氣設(shè)備產(chǎn)生的局部放電、分接開關(guān)動(dòng)作產(chǎn)生的放電、電機(jī)工作產(chǎn)生的電弧放電、接觸不良產(chǎn)生的懸浮電位放電器繼電保護(hù)信號(hào)線路中耦合進(jìn)入的各種噪聲等。

  電磁干擾一般通過空間直接耦合和線路傳導(dǎo)兩種方式進(jìn)入測(cè)量點(diǎn)。測(cè)量點(diǎn)不同，干擾耦合路徑會(huì)不同，對(duì)測(cè)量的影響也不同；測(cè)量點(diǎn)不同，干擾種類、強(qiáng)度也不相同。

  局部放電檢測(cè)干擾的分類

  由種種原因引起的干擾將嚴(yán)重地影響局部放電檢測(cè)試驗(yàn)。假如這些干擾是連續(xù)的而且其幅值是基本相同的(背景噪聲)，它們將會(huì)降低局部放電檢測(cè)儀的有效靈敏度，即最小可見放電量比所用試驗(yàn)線路的理論最小值要大。這種形式的干擾會(huì)隨電壓而增大，因而靈敏度是按比例下降的。在其他的一些情況中，隨電壓的升高而在試驗(yàn)線路中出現(xiàn)的放電，可以認(rèn)為是發(fā)生在試驗(yàn)樣品的內(nèi)部。

  因此，重要的是將干擾降低到最小值，以及使用帶有放電實(shí)際波形顯示的局部放電檢測(cè)儀，以最大的可能從試樣的干擾放電中鑒別出假的干擾放電響應(yīng)。根據(jù)測(cè)量試驗(yàn)回路中可能的干擾源位置可將干擾源分為兩類：第一類與外施高壓大小無關(guān)的干擾，第二類是僅在高壓加于回路時(shí)才產(chǎn)生的干擾。