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泄露電流試驗(yàn)中的影響因素及處理方法

高壓連接導(dǎo)線對(duì)地泄漏電流的影響

處理方法:將微安表移至被試設(shè)備的上端實(shí)際操作時(shí),將微安表固定在被試設(shè)備的上端是比較困難的般都是將微安表固定在升壓變壓器的上端,此時(shí)必須用屏蔽線作為引線,也要用金屬外殼把微安表屏蔽起來(lái)。

屏蔽線可以用低壓的軟金屬線,因?yàn)槠帘魏托局g的電壓極低,只是儀表的壓降而異。金屬的外層屏蔽一定要接到儀表和要盡可能地靠近升壓變壓器出線,升壓變壓器引線的接點(diǎn)上,這樣電暈雖然還照樣產(chǎn)生,但只在屏蔽線的外層上產(chǎn)生電暈電流,而不會(huì)流過(guò)微安表。

表面泄漏電流的影響

實(shí)際測(cè)量中,表面泄漏電流往往大于體積泄露電流,這給分析、判斷被試設(shè)備的絕緣狀況帶來(lái)了困難。因而必須消除表面泄漏電流的影響,消除的辦法一種是使被試設(shè)備表面干燥、清潔,且高壓端導(dǎo)線與接地端要保持足夠的距離;另一種是采用屏蔽環(huán)將表面泄漏電流直接短接,使之不流過(guò)微安表。

微安表

溫度的影響

經(jīng)驗(yàn)表明:溫度每增高10°C時(shí),發(fā)電機(jī)的泄漏電流約增加0.6倍;

測(cè)量最好在被試設(shè)備溫度為30~80°C時(shí)進(jìn)行。故應(yīng)在停止運(yùn)行后的熱狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)量?;蛟诶鋮s狀態(tài)中對(duì)幾種不同溫度下的泄漏電流進(jìn)行測(cè)量,以便于比較。

電源電壓的非正弦波形對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響;

如果電源電壓為尖頂波,整流后的直流電壓要大于交流基波電壓有效值的1.414倍,導(dǎo)致產(chǎn)生誤差;

調(diào)壓器對(duì)波形的影響也很大。

如電壓是在高壓直流側(cè)直接測(cè)量的,則上述影響可以消除。

加壓速度的影響

對(duì)被試設(shè)備泄露電流本身而言,它于加壓速度無(wú)關(guān),但用微安表所讀取的可能包含吸收電流在內(nèi)的合成電流。

對(duì)于電纜、電容等設(shè)備來(lái)說(shuō),由于設(shè)備的吸收現(xiàn)象很強(qiáng),真實(shí)的泄露電流需整經(jīng)過(guò)很長(zhǎng)的時(shí)間才能讀到,而在測(cè)星時(shí),有不能等很長(zhǎng)的,不名而在測(cè)量時(shí),有不可能等很長(zhǎng)的時(shí)間,大多是流,而這一部分的吸收電流和加壓速度有關(guān)。

如果電壓是逐漸加上去的,則在加壓的過(guò)程中,就已有吸收過(guò)程,請(qǐng)讀得的電流數(shù)值就較??;而如果電壓是很快加上的,或者是一下子加上的,則加壓過(guò)程中就沒(méi)有完成吸收過(guò)程,而在同一時(shí)間下讀得的電流就會(huì)天一些,對(duì)于電容量較大的設(shè)備都是如此。

試驗(yàn)電壓極性的影響

電滲現(xiàn)象的影響:

采用如下接線分別對(duì)新舊電纜進(jìn)行試驗(yàn),為測(cè)量方便將被試設(shè)備外皮或外殼對(duì)地絕緣,微安表接在低電位側(cè)。

對(duì)引線電暈電流的影響

在進(jìn)行直流泄露電流試驗(yàn)時(shí),其高壓引線對(duì)地構(gòu)成的電場(chǎng)可以等效為棒-板電場(chǎng),此時(shí)正、負(fù)極性的起始電暈電壓各不相同,U-<U+,因此外施直流試驗(yàn)電壓極性不同時(shí),高壓引線的電暈電流是不同的。

試驗(yàn)表明:40kV下電暈電流負(fù)極性較正極性高50%~80%,對(duì)泄電流較小的設(shè)備(如少油斷路器),高壓引線電暈電流對(duì)測(cè)量結(jié)果將其舉足輕重的作用,有時(shí)甚至出現(xiàn)負(fù)值現(xiàn)象。

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