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局部放電檢測試驗干擾波的基本圖譜說明

  局部放電檢測試驗干擾波的基本圖譜說明

  干擾源:懸浮電位放電:在電場中兩懸浮金屬物體間,或金屬物與大地間產(chǎn)生的放電。

  放電響應:波形有現(xiàn)兩種情況:

  (1)正負兩邊脈沖等幅、等間隔及頻率相同

  (2)兩邊脈沖成對出現(xiàn),對與對間隔相同,有進會在基線往復移動

  放電量與試驗電壓的關(guān)系:起始放電后有3種類型:

  (1)放電量保持不變,與電壓有關(guān),熄滅電壓與起始電壓完全相等

  (2)電壓繼續(xù)上升,在某一電壓下放電突然消失;電壓繼續(xù)上升后再下降,會在前一消失電壓下再次出現(xiàn)放電

  (3)隨電壓上升,放電量逐漸減小,放電脈沖隨之增加。

局部放電檢測儀

  干擾源:針尖對平板或大地的氣體介質(zhì)

  放電響應:較低電壓下產(chǎn)生電暈放電,放電脈沖總疊加于電壓的峰值位置。如位于負峰值處,放電源處于高電位;如位于正峰處,放電源處于低電位。這可幫助判斷電壓的零位

  放電量與試驗電壓的關(guān)系:起始放電后電壓上升,放電量保持不變,惟脈沖密度向兩邊擴散、放電頻率增加,但尚能分辨;電壓再升高,放電脈沖頻率增至逐漸不可分辨。

  干擾源:針尖對平板或大地的液體介質(zhì)

  放電響應:較低電壓下產(chǎn)生電暈放電,放電脈沖總疊加于電壓的峰值位置。如位于負峰值處,放電源處于高電位;如位于正峰處,放電源處于低電位。這可幫助判斷電壓的零位一對脈沖對稱的出現(xiàn)在電壓正或負峰處,每一簇的放電脈沖時間間隔均各自相等。但兩簇的幅值及時間間隔不等,幅值較小的一簇幅值相等、較密。

  放電量與試驗電壓的關(guān)系:一簇較大的脈沖起始電壓較低,放電量隨電壓上升增加;一簇較小的脈沖起始電壓較高,放電量與電壓無關(guān),保持不變;電壓上升,脈沖頻率密度增加,但尚能分辨;電壓再升高,逐漸變得不可分辨

  干擾源:試品內(nèi)部、局部放電檢測儀試驗回路中導電部分的接觸不良

  放電響應:兩簇脈沖位于試驗電源零位的不規(guī)則的干擾脈沖,基本等幅,與電壓成比例。

  放電量與試驗電壓的關(guān)系:放電量與電壓成比例,有時接觸處完全導通時會使干擾自行消除

  干擾源:局部放電檢測儀回路中設備的鐵芯磁飽和產(chǎn)生的干擾。其原因為:(1)磁密過高(,2)與回路的電容發(fā)生諧振,(3)檢測儀頻帶在低限下頻率的不穩(wěn)定性。

  放電響應:帶有低頻振蕩的脈沖出現(xiàn)于時間基線上,振蕩周期大于檢測儀的分辨率

  放電量與試驗電壓的關(guān)系:干擾脈沖幅值隨電壓上升,電壓回零,脈沖即消失,與電壓持續(xù)時間無關(guān)。

  干擾源:(1)單個可控硅干擾脈沖,(2)6極水銀整流器干擾,(3)旋轉(zhuǎn)電機干擾,(4)熒光燈產(chǎn)生的干擾。

  放電響應:響應特性的范圍很寬,常有:

  (1)波形的位置上可以完全不規(guī)則或間斷 放電量與電壓無關(guān),電壓降為零時,脈沖依然存在。受電源切斷、短路、疊加負荷的影響,具有嚴格的時間對應關(guān)系,但不規(guī)則。

  (2)一個電壓周波可出現(xiàn)1、2、3、4、6或12根間斷彼此相等的單獨脈沖。

  (3)試驗電壓與局部放電檢測儀器電源的周波不很同步,干擾脈沖會在橢圓基線作定向等速移動。

  放電量與試驗電壓的關(guān)系:放電量與電壓無關(guān),電壓降為零時,脈沖依然存在。受電源切斷、短路、疊加負荷的影響,具有嚴格的時間對應關(guān)系,但不規(guī)則。

  干擾源:調(diào)制或非調(diào)制的干擾波形有:

  (1)與無線電波調(diào)制

  (2)調(diào)幅高頻

  (3)與檢測頻段相近的超聲波干擾

  放電響應:通常來源于高頻設備,如感應加熱器、超聲波發(fā)生器等。

  放電量與試驗電壓的關(guān)系:放電量與電壓無關(guān),電壓降為零時,脈沖依然存在。受電源切斷、短路、疊加負荷的影響,具有嚴格的時間對應關(guān)系,但不規(guī)則。