局部放電檢測(cè)方法之電測(cè)法，局部放電最直接的現(xiàn)象即引起電極間的電荷轉(zhuǎn)移，從而引起試樣外部電極上的電壓變化。

  氣隙中局部放電持續(xù)時(shí)間很短，10ns量級(jí);油隙中1us量級(jí)。根據(jù)Maxwell電磁理論，如此短持續(xù)時(shí)間的放電脈沖會(huì)產(chǎn)生高頻的電磁信號(hào)向外輻射。

  局部放電檢測(cè)儀的局部放電電檢測(cè)法，即是基于電荷轉(zhuǎn)移和電磁輻射這兩個(gè)原理。

  介質(zhì)損耗分析法(Dielectric loss analysis， DLA)局部放電對(duì)絕緣材料的破壞作用與局部放電消耗的能量直接相關(guān)，因此對(duì)放電消耗功率的測(cè)量能夠定性反映出局部放電性質(zhì)。

  Tgo能夠反映介質(zhì)損耗， 介質(zhì)損壞將導(dǎo)致tgo增加。因此可以通過(guò)測(cè)量tgo值來(lái)反映局部放電能量，從而判斷絕緣材料和結(jié)構(gòu)的性能情況。

  介質(zhì)損耗分析法(Dielectric loss analysis，DLA)介質(zhì)損耗分析法特別適用于測(cè)量低氣壓中存在的輝光或者亞輝光放電。

  輝光放電不產(chǎn)生放電脈沖信號(hào)，而亞輝光放電的脈沖上升沿時(shí)間太長(zhǎng)，普通的脈沖電流法檢測(cè)裝置中難以檢測(cè)出來(lái)。

  但這種放電消耗的能量很大，使得tgo很大，故只有采用電橋法檢測(cè)tgo才能判斷這種放電的狀態(tài)和帶來(lái)的危害。

  介質(zhì)損耗分析法方法只能定性測(cè)量局部放電是否發(fā)生，不能檢測(cè)局部放電量的大小， 這限制了介質(zhì)損耗分析法方法的運(yùn)用。

  在沒(méi)有局部放電檢測(cè)儀或其它局部放電檢測(cè)試驗(yàn)設(shè)備的情況下，可以采用介質(zhì)損耗分析法判斷是否存在局部放電，然后再結(jié)合局部放電檢測(cè)儀檢測(cè)局部放電量的大小。