HZJF-121模擬局部放電檢測儀操作和使用步驟
HZJF-121模擬局部放電檢測儀是我公司研制開發(fā)生產(chǎn)的又一新穎儀器。它基本保持了前幾種儀器的優(yōu)點和功能,又根據(jù)當今國內(nèi)外局放儀研究領(lǐng)域的先進理論,參照國際電工委員會(IEC)標準,采用了先進電路,引用了先進技術(shù),通過各地用戶廣泛試用后的不斷改進而成的,HZJF-121模擬局部放電檢測儀在設(shè)計上更完善,使用上更方便,性能上更可靠。
操作說明
(一)試驗準備
1、檢查試驗場地的接地情況,將本儀器后部的接地螺栓38用粗銅線(最好用編織銅帶)與試驗場地的接地線妥善相接。輸入單元的接地短路片也要妥善接地。
2、根據(jù)試品電容CX耦合電容CK的大小,選取合適序號的輸入單元,表一中調(diào)諧電容量系指從輸入單元初級繞組兩端看到的等效電容(可按CX與CK的串聯(lián)值粗略估算)。
輸入單元應盡量靠近被測試品,輸入單元的“接放大器”Q9插座,經(jīng)8米長電纜與儀器后背板上的放大器輸入插座30(有綠色圈)相接。
3、試品接入輸入單元的方法主要有以下幾種。
并聯(lián)接法
串聯(lián)接法
平衡接法
橋式接法
圖中:CX——試品;CK——耦合電容;Z——阻塞阻抗;
R3、C3、R4、C4——橋式接法中平衡調(diào)節(jié)阻抗。
4、在高壓端接上高壓電阻R(50KV、100KV或以上)其輸出經(jīng)測量電纜接到后背板“接高壓電阻”輸入插座31(紅色)。
5、在未加試驗電壓的情況下,用不接地的校正脈沖發(fā)生器(JZF-9或JZF-10均可,推薦使用JZF-9)的輸出經(jīng)接線盒接試品兩端,接線盒內(nèi)注入電容分C=10PF及100PF兩種,按C<0.1(CX+CK)選取(如使用JZF-9,其注入電容C已裝在盒內(nèi)一體化)。
6、常用局部放電試驗電路
使用步驟。
1、開機準備
將“時基頻率”選擇7置于“50(內(nèi))”、“時基工作方式”5置于“橢圓”。單次正常選擇開關(guān)18置于“正常”。對數(shù)線性選擇開關(guān) 2置于線性。電源插座37接上220V工頻電源,將電源開關(guān)13按到“I”位置,開機預熱15分鐘以上。
2、放電量校正與PC設(shè)定
參照圖四接好線后,在未加試驗電壓前用JZF-9型校正脈沖發(fā)生器予以校正。其注入電量Q按發(fā)生器上指示的電壓U與接線盒上注入電容C的乘積計算Q=U·C。
注意:接線盒應盡量靠近試品高壓端。
如果使用JZF-9型校正脈沖發(fā)生器進行放電量的校正,其注入電量Q可按發(fā)生器上的檔位指示值直讀。
然后調(diào)節(jié)“放大器增益調(diào)節(jié)”14與 16使注入脈沖高度適當(示波屏上顯示高度2cm以下);電表1示值與注入已知電量相符,PC設(shè)定后,“放大器增益細調(diào)”旋鈕14的位置不能再改變,在以后測試中放大器的頻帶也不能改變,須保持與校正時相同。
去掉JZF校正脈沖發(fā)生器與試驗電路的連接。
下面以圖四為例,介紹一種試驗方法:
例:用JZF-9或JZF-10型方波發(fā)生器注入試品兩端的電量為50PC,調(diào)節(jié)JF-2002局放儀面板旋鈕16,在第三檔調(diào)節(jié)放大器增益細調(diào)旋調(diào)14,使其表頭“1”指示為滿度50PC。去掉方波發(fā)生器,加入試驗電壓,此時表頭1所指示值即為放電量值的大小的兩倍,如大于50PC時應衰減“16”一檔(“16”為放大器增益粗調(diào)共分5檔,每檔20dB,10倍的關(guān)系)。
3、測試操作
接通高壓試驗電路電源,將KV-PC選擇開關(guān)4置于“KV”,“零標選擇”開關(guān)29置于“R”位置,緩緩升高試驗電壓,橢圓上將出現(xiàn)兩個零標脈沖,零標相位差180°,如試驗電壓超過高壓電阻R的額定電壓等級,則可在低電壓下將“零標選擇”開關(guān)29置于“內(nèi)”位置,出現(xiàn)由儀器產(chǎn)生的輔助零標脈沖,這時可調(diào)節(jié)電位器27,使輔助零標相位與“R”檔時相符(極性也要一致),則在高壓下不用高壓電阻“R”也可獲得正確的零標位置。
旋轉(zhuǎn)“橢圓旋轉(zhuǎn)”9使橢圓轉(zhuǎn)到預期的在放電時能最利于觀察之處,通常這個位置是零標脈沖分別處于橢園上部左側(cè)及下部右側(cè)之處。連續(xù)升高電壓,注意第一次出現(xiàn)持續(xù)放電,當放電量超過規(guī)定的最低值時的電壓即為局部放電起始電壓。
測試中常會發(fā)現(xiàn)有各種干擾出現(xiàn),可籍“時間窗”開關(guān)20、21、用一個或兩個并用電位器19與 22來改變橢圓上加亮區(qū)域的寬度與位置。使其避開干擾脈沖。用時間窗裝置可以分別測量產(chǎn)生于兩個半波內(nèi)的放電量。
4、頻率高于50HZ的局部放電試驗
當須進行高于50HZ的局部放電試驗時,可將“時基頻率”選擇7按在相應頻率檔上,從高頻試驗電源中取10V-250V試驗電壓送入插座33上,(轉(zhuǎn)動“高頻電壓”選擇8,使橢圓大小適當即可,)
當“高頻電壓”選擇8位置不當引起過載時,則電源會自動切斷,同時過載指示燈6亮,此時應將“高頻電壓”選擇8順時針方向轉(zhuǎn)到底,按一下“重新啟動”按鈕11即可恢復啟動(過載指示燈6滅)。示波屏上出現(xiàn)橢圓顯示。
注意:為保護示波管,試驗電壓輸入“高頻電壓”選擇8所示值之比大于15%時才有橢園顯示。
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